| Ders Adı | Kodu | Yerel Kredi | AKTS | Ders (saat/hafta) | Uygulama (saat/hafta) | Laboratuar (saat/hafta) |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Tarama Elektron Mikroskobisi | MEM5127 | 3 | 7.5 | 3 | 0 | 0 |
| Önkoşullar | Yok |
|---|
| Yarıyıl | Güz, Bahar |
|---|
| Dersin Dili | Türkçe |
|---|---|
| Dersin Seviyesi | Yüksek Lisans |
| Dersin Türü | Seçmeli @ Metalürji ve Malzeme Mühendisliği Yüksek Lisans Programı Seçmeli @ Metalürji ve Malzeme Mühendisliği Yüksek Lisans Programı (Tezsiz) |
| Ders Kategorisi | Temel Meslek Dersleri |
| Dersin Veriliş Şekli | Yüz yüze |
| Dersi Sunan Akademik Birim | Metalürji ve Malzeme Mühendisliği Bölümü |
|---|---|
| Dersin Koordinatörü | Işıl Kerti |
| Dersi Veren(ler) | Ergun Keleşoğlu |
| Asistan(lar)ı |
| Dersin Amacı | Tarama elektron mikroskobu ile mikroyapısal ve kimyasal analiz yapma pratiğinin kazanılması ve elde edilen görüntülerin değerlendirilmesi için temel bilgilerin edinilmesi |
|---|---|
| Dersin İçeriği | Mikroskoplara genel bakış, ayırma gücü, elektron mikroskopları arasındaki farklılıklar, tarama elektron mikroskobunun (SEM) yapısı ve optik kolonu, mercek hataları, elektron demeti numune etkileşimi, Etkileşim hacmi, geri saçılmış elektronlar (BSE), ikincil elektronlar (SE), auger elektronlar, x-ışınları, SEM de kullanılan dedektörler, Görüntü oluşumu, görüntü bozulmaları ve nedenleri. Elementel analiz için Enerji Dispersive x-ışını spektroskobisi (EDS), Dalgaboyu Dispersive x-ışını spektroskobisi (WDS), |
| Ders Kitabı / Malzemesi / Önerilen Kaynaklar |
|
| Opsiyonel Program Bileşenleri | Yok |
Ders Öğrenim Çıktıları
- Doğru inceleme ve analiz yapılabilmesi için , incelenecek numuneye uygun ışınımların, ivmelendirme voltajının, eğimin, çalışma mesafesinin, aparture çapının seçilmesi gibi gerekli bilgi ve elde edilen verileri değerlendirme becerisi kazanır.
- Metalürji ve Malzeme Mühendislerinin iş hayatında ihtiyaç duyacağı temel mesleki terminoloji ve bilgiye sahip olur.
- Malzemelerin üretiminde ve kullanımında ihtiyaç duyulacak özellikleri ortaya koyabilir.
Haftalık Konular ve İlgili Ön Hazırlık Çalışmaları
| Hafta | Konular | Ön Hazırlık |
|---|---|---|
| 1 | Tarama Elektron Mikroskobisi, Kullanım amacı ve diğer mikroskoplar ile karşılaştırılması | 1. ve 2. Kitap |
| 2 | Elektron optiği | 1. ve 2. Kitap |
| 3 | Elektron demeti numune etkileşimi | 1. ve 2. Kitap |
| 4 | Geri saçılmış ve ikincil elektron emisyonu | 1. ve 2. Kitap |
| 5 | Geri saçılmış ve ikincil elektron ile görüntüleme | 1. ve 2. Kitap |
| 6 | X-ışını emisyonu | 1. ve 2. Kitap |
| 7 | Enerji Dispersiv X-ışını (EDS) analizi | 1. ve 2. Kitap |
| 8 | Topografik Kontrast Uygulaması | 1. ve 2. Kitap |
| 9 | Materyal Kontrast Uygulaması | 1. ve 2. Kitap |
| 10 | 1. Vize | İlgili Kaynaklar |
| 11 | EDS Analizi Uygulaması | 1. ve 2. Kitap |
| 12 | Görüntü Bozulmaları | 1. ve 2. Kitap |
| 13 | Ödev Sunumları | İlgili Kaynaklar |
| 14 | Ödev Sunumları | İlgili Kaynaklar |
| 15 | Ödev Sunumları | İlgili Kaynaklar |
| 16 | Final | İlgili Kaynaklar |
Değerlendirme Sistemi
| Etkinlikler | Sayı | Katkı Payı |
|---|---|---|
| Devam/Katılım | ||
| Laboratuar | ||
| Uygulama | ||
| Arazi Çalışması | ||
| Derse Özgü Staj | ||
| Küçük Sınavlar/Stüdyo Kritiği | ||
| Ödev | 1 | 30 |
| Sunum/Jüri | ||
| Projeler | ||
| Seminer/Workshop | ||
| Ara Sınavlar | 1 | 30 |
| Final | 1 | 40 |
| Dönem İçi Çalışmaların Başarı Notuna Katkısı | ||
| Final Sınavının Başarı Notuna Katkısı | ||
| TOPLAM | 100 | |
AKTS İşyükü Tablosu
| Etkinlikler | Sayı | Süresi (Saat) | Toplam İşyükü |
|---|---|---|---|
| Ders Saati | 16 | 2 | |
| Laboratuar | |||
| Uygulama | |||
| Arazi Çalışması | |||
| Sınıf Dışı Ders Çalışması | 14 | 10 | |
| Derse Özgü Staj | |||
| Ödev | 1 | 25 | |
| Küçük Sınavlar/Stüdyo Kritiği | |||
| Projeler | |||
| Sunum / Seminer | |||
| Ara Sınavlar (Sınav Süresi + Sınav Hazırlık Süresi) | 1 | 15 | |
| Final (Sınav Süresi + Sınav Hazırlık Süresi) | 1 | 10 | |
| Toplam İşyükü : | |||
| Toplam İşyükü / 30(s) : | |||
| AKTS Kredisi : | |||
| Diğer Notlar | Yok |
|---|
