Ders Adı | Kodu | Yerel Kredi | AKTS | Ders (saat/hafta) | Uygulama (saat/hafta) | Laboratuar (saat/hafta) |
---|---|---|---|---|---|---|
Kristalografi | MEM2202 | 2 | 5 | 2 | 0 | 0 |
Önkoşullar | Yok |
---|
Yarıyıl | Bahar |
---|
Dersin Dili | İngilizce, Türkçe |
---|---|
Dersin Seviyesi | Lisans |
Dersin Türü | Seçmeli @ Metalürji ve Malzeme Mühendisliği Lisans Programı |
Ders Kategorisi | Temel Meslek Dersleri |
Dersin Veriliş Şekli | Yüz yüze |
Dersi Sunan Akademik Birim | Metalürji ve Malzeme Mühendisliği Bölümü |
---|---|
Dersin Koordinatörü | Işıl Kerti |
Dersi Veren(ler) | Ergun Keleşoğlu |
Asistan(lar)ı |
Dersin Amacı | Malzemelerde atom ve elektron yapıları hakkında detaylı bilgi edinilmesi; temel bilimleri kullanarak elektromanyetik ışın ve X-ışını oluşumu prensiplerinin öğrenilmesi, anlaşılması ve XRD ile XRF uygulamaları ile pekiştirilmesi; X-ışını ile malzeme analizi ve malzeme kristal yapısının belirlenmesine yönelik yöntemlerin incelenmesi.kristal yapısının belirlenmesi yöntemlerinin incelenmesi. |
---|---|
Dersin İçeriği | Kristallografi tanımı,atom ve atomlar arası bağla, Kristalin malzemeler ve kafes sistemleri, Miller indisleri. Elektromanyetik ışın tanımı, kavramı, oluşum prensipleri, x ışını oluşum prensipleri, x ışını tübü çalışma prensipleri teorik yaklaşım. Sürekli ve Karakteristik spektrum kavramı, Moseley kanunu, Absorbsiyon saçılma ve gerçek absorbsiyon, filtreler, kristal yapılar, indisleme, simetri, kafes parametreleri, x ışını difraksiyon kavramı, Bragg kanunu, elektron ve atom tarafından saçılma, x ışını ile analiz teknikleri, x ışını difraksiyonu ile analiz yöntemi, difraksiyon verileri ve ilgili hesaplamalar. |
Ders Kitabı / Malzemesi / Önerilen Kaynaklar |
|
Opsiyonel Program Bileşenleri | Yok |
Ders Öğrenim Çıktıları
- Matematik, fen ve mühendislik bilgilerini uygulama becerisi kazanırlar.
- Malzeme analizinde optik mikroskobun nasıl kullanılacağını kavrar.
- X-ışınlarının oluşumunu kavrar.
Haftalık Konular ve İlgili Ön Hazırlık Çalışmaları
Hafta | Konular | Ön Hazırlık |
---|---|---|
1 | Giriş ve Kristallografi | İlgili Kaynaklar |
2 | Atom, atomlar arası bağlar, kafes sistemleri | İlgili Kaynaklar |
3 | Miller indisleri | İlgili Kaynaklar |
4 | X-ışınlarının oluşum prensipleri ve Elektromanyetik spektrum | İlgili Kaynaklar |
5 | Sürekli spektrum ve Karakteristik spektrum oluşum prensipleri, Moseley kanunu | İlgili Kaynaklar |
6 | Absorbsiyon | İlgili Kaynaklar |
7 | Filtreler | İlgili Kaynaklar |
8 | 1. Vize | İlgili Kaynaklar |
9 | Uygulama | İlgili Kaynaklar |
10 | Difraksiyon teorisi, Bragg Kanunu | İlgili Kaynaklar |
11 | Dif. açıları, İndeks numaraları, Kristal kafes türlerinin hesaplanması | İlgili Kaynaklar |
12 | XRD VE XRF | İlgili Kaynaklar |
13 | 2. Vize | İlgili Kaynaklar |
14 | Difraksiyon Yöntemleri ödev sunumları | İlgili Kaynaklar |
15 | Difraksiyon Yöntemleri ödev sunumları | İlgili Kaynaklar |
16 | FİNAL | İlgili Kaynaklar |
Değerlendirme Sistemi
Etkinlikler | Sayı | Katkı Payı |
---|---|---|
Devam/Katılım | ||
Laboratuar | ||
Uygulama | ||
Arazi Çalışması | ||
Derse Özgü Staj | ||
Küçük Sınavlar/Stüdyo Kritiği | ||
Ödev | 1 | 20 |
Sunum/Jüri | ||
Projeler | ||
Seminer/Workshop | ||
Ara Sınavlar | 2 | 40 |
Final | 1 | 40 |
Dönem İçi Çalışmaların Başarı Notuna Katkısı | ||
Final Sınavının Başarı Notuna Katkısı | ||
TOPLAM | 100 |
AKTS İşyükü Tablosu
Etkinlikler | Sayı | Süresi (Saat) | Toplam İşyükü |
---|---|---|---|
Ders Saati | 16 | 2 | |
Laboratuar | |||
Uygulama | |||
Arazi Çalışması | |||
Sınıf Dışı Ders Çalışması | 14 | 5 | |
Derse Özgü Staj | |||
Ödev | 1 | 10 | |
Küçük Sınavlar/Stüdyo Kritiği | |||
Projeler | |||
Sunum / Seminer | |||
Ara Sınavlar (Sınav Süresi + Sınav Hazırlık Süresi) | 2 | 15 | |
Final (Sınav Süresi + Sınav Hazırlık Süresi) | 1 | 15 | |
Toplam İşyükü : | |||
Toplam İşyükü / 30(s) : | |||
AKTS Kredisi : |
Diğer Notlar | Yok |
---|