| Ders Adı | Kodu | Yerel Kredi | AKTS | Ders (saat/hafta) | Uygulama (saat/hafta) | Laboratuar (saat/hafta) |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Karakterizasyon Teknikleri | MEM3213 | 3 | 5 | 3 | 0 | 0 |
| Önkoşullar | Yok |
|---|
| Yarıyıl | Bahar |
|---|
| Dersin Dili | İngilizce, Türkçe |
|---|---|
| Dersin Seviyesi | Lisans |
| Dersin Türü | Zorunlu @ Metalürji ve Malzeme Mühendisliği Lisans Programı |
| Ders Kategorisi | Temel Meslek Dersleri |
| Dersin Veriliş Şekli | Yüz yüze |
| Dersi Sunan Akademik Birim | Metalürji ve Malzeme Mühendisliği Bölümü |
|---|---|
| Dersin Koordinatörü | Figen Kaya |
| Dersi Veren(ler) | Ergun Keleşoğlu |
| Asistan(lar)ı | Cansu NOBERİ |
| Dersin Amacı | Malzemelerin dıştaki özelliklerinin tümünün iç yapının sonucu oluştuğu gözönüne alınarak malzemelerin iç yapılarının ışık metal mikroskobunda ve elektron mikroskoplarında incelenerek yapı özellik ilişkisinin kazandırılması. |
|---|---|
| Dersin İçeriği | Malzeme Yapı özellik ilişkisine giriş/ Makroskobi/ Metalografi/ Işık metal mikroskobunda inceleme için numunelerin seçilmesi, kesilmesi, montesi, zımparalanması, parlatılması , dağlanması ve bu işlemlerde dikkat edilecek hususlar/ Transmisyon Işık Mikroskobu çalışma prensipleri/Refleksiyon Işık Mikroskobu Çalışma Prensipleri/Aydınlık Alan Görüntülemesi/Karanlık Alan Görüntülemesi/ Polarize Işık Mikroskobu/ Nomarski Mikroskobisi/ Konfokal Mikroskobu/ Elektron mikroskoplarına giriş/ Taramalı Elektron mikroskoplarının yapısı/ Ayırma gücü/ İkincil Elektron ile Kontrast Oluşturma/ Gerisaçılmış Elektronlarla Kontrast Oluşumu/SEM’ de çeşitli numunelerin incelenmesi ve irdelenmesi/ Geçirimli Elektron Mikroskobu Çalışma Prensipleri/TEM'de Aydınlık Alan Görüntülemesi/TEM'de Karanlık Alan Görüntülemesi/X Işını OLuşumu/ Difraksiyon ve Faz analizi/Seçili Alan Difraksiyon Patterni ile Faz Analizi/ TEM için numune hazırlama yöntemleri/ SEM için numune hazırlama yöntemleri/ Hazırlanan numunelerin incelenmesi (dislokasyon, ikiz hataları, yığılma hataları, vd) ve irdelenmesi/ TEM’ de çeşitli numunelerin incelenmesi ve irdelenmesi / |
| Ders Kitabı / Malzemesi / Önerilen Kaynaklar | |
| Opsiyonel Program Bileşenleri | Yok |
Ders Öğrenim Çıktıları
- Yapı analizinin ışık metal mikroskobu ve elektron mikroskobu kullanarak yapma bilgi ve becerisini kazanır.
- Modern mühendislik donanımlarını kullanma becerisi kazanır.
- Elde ettiği sonuçları analiz ederek yorumlama becerisi kazanır.
- Sorumluluk alma ve ilke sahibi olma özelliği kazanır.
- Etkin yazılım ve sözlü iletişim kurma becerisi kazanır.
Haftalık Konular ve İlgili Ön Hazırlık Çalışmaları
| Hafta | Konular | Ön Hazırlık |
|---|---|---|
| 1 | Malzeme Karakterizasyonuna Giriş, Optik Spektroskopi; Optik Emisyon Spektroskopisi, İndükleyici Plazma Atomik Emisyon Spektroskopisi, Atomik Emisyon Spektrometresi, Mor ötesi Işın Absorpsiyon Spektroskpisi, Floresan Spektroskopisi | İlgili Kaynaklar |
| 2 | X-Işını Spektroskopisi; X-Işını Spektrometresi, Parçacık İndüksiton Emisyonu, Kızıl Ötesi Işın Spektroskopisi, Raman Spektroskopisi | İlgili Kaynaklar |
| 3 | Kütle Spektroskopisi; Ateşleme Kaynağı Kütle Spektroskopisi, Kütle Spektroskopisi ile Gaz Analizi | İlgili Kaynaklar |
| 4 | Geleneksel, Elektrokimyasal ve Radyokimyasal Analizler; Yaş Analiz Kimyası, Potansiyometrik Eleman Elektrodları, Voltmetre, Elektrogravimetri, Elektrometrik Titrasyon, Potansiyel Kontrollü Kalorimetre | İlgili Kaynaklar |
| 5 | Elementel ve Fonksiyonel Grup Analizi, Yüksek Sıcaklıkta Yanma, İnert Ortamda Füzyon, Nötron Aktivasyonlu Analiz, Radyoanaliz | İlgili Kaynaklar |
| 6 | Rezönans Yöntemleri; Elektron Dönme Rezönansı, Ferromanyetik Rezönans, Nükleer Manyetik Rezönans, Massbauer Spektroskopisi | İlgili Kaynaklar |
| 7 | Metalografi Teknikleri; Optik Metalografi, Görüntü Analizi | İlgili Kaynaklar |
| 8 | Difraksiyon Yöntemlerine Griş, X-Işını Toz Difraksiyonu, Tek Kristal X-Işını Difraksiyonu, Kristalografik Doku Ölçümü ve Analizi | İlgili Kaynaklar |
| 9 | 1. Vize | İlgili Kaynaklar |
| 10 | X-Işını Topografisi, Radyal Dağılım Fonksiyonu, Küçük Açılı X-Işını ve Nötron Saçılması, Genişletilmiş X-Işını Absorpsiyonu, Nötron Difraksiyonu | İlgili Kaynaklar |
| 11 | Elektron Mikroskobisi; Tarama Elektron Mikroskobu, Transmisyon Elektron Mikroskobu | İlgili Kaynaklar |
| 12 | Elektron ve X-Işını Spektroskopisi Yöntemleri; Auger Elektronları Spektroskopisi, X-Işını Fotoelektron Spektroskopisi | İlgili Kaynaklar |
| 13 | Düşük Enerjili İyon Saçılma Spektroskopisi, Rutherford Spektroskopisi | İlgili Kaynaklar |
| 14 | Alan İyon Mikroskobu, | İlgili Kaynaklar |
| 15 | Kromatografi; Gaz Kromatografisi, Sıvı Kromatografisi, İyon Kromatografisi | İlgili Kaynaklar |
| 16 | FİNAL | İlgili Kaynaklar |
Değerlendirme Sistemi
| Etkinlikler | Sayı | Katkı Payı |
|---|---|---|
| Devam/Katılım | ||
| Laboratuar | ||
| Uygulama | ||
| Arazi Çalışması | ||
| Derse Özgü Staj | ||
| Küçük Sınavlar/Stüdyo Kritiği | 0 | 0 |
| Ödev | 0 | 0 |
| Sunum/Jüri | 1 | 30 |
| Projeler | ||
| Seminer/Workshop | ||
| Ara Sınavlar | 1 | 60 |
| Final | 1 | 40 |
| Dönem İçi Çalışmaların Başarı Notuna Katkısı | ||
| Final Sınavının Başarı Notuna Katkısı | ||
| TOPLAM | 100 | |
AKTS İşyükü Tablosu
| Etkinlikler | Sayı | Süresi (Saat) | Toplam İşyükü |
|---|---|---|---|
| Ders Saati | 16 | 2 | |
| Laboratuar | 8 | 1 | |
| Uygulama | |||
| Arazi Çalışması | |||
| Sınıf Dışı Ders Çalışması | |||
| Derse Özgü Staj | |||
| Ödev | 5 | 1 | |
| Küçük Sınavlar/Stüdyo Kritiği | 3 | 5 | |
| Projeler | |||
| Sunum / Seminer | |||
| Ara Sınavlar (Sınav Süresi + Sınav Hazırlık Süresi) | 2 | 10 | |
| Final (Sınav Süresi + Sınav Hazırlık Süresi) | 1 | 10 | |
| Toplam İşyükü : | |||
| Toplam İşyükü / 30(s) : | |||
| AKTS Kredisi : | |||
| Diğer Notlar | Yok |
|---|
